Please enable javascript in your browser.
Page
of
0
ارزیابی تجهیز جانبی QSPI به روش مدل سایه، جانمایی و ساخت میکروکنترلر با هسته پردازشی Cortex M0
ساعتی، محمد Saati, Mohammad
Cataloging brief
ارزیابی تجهیز جانبی QSPI به روش مدل سایه، جانمایی و ساخت میکروکنترلر با هسته پردازشی Cortex M0
پدیدآور اصلی :
ساعتی، محمد Saati, Mohammad
ناشر :
صنعتی شریف
سال انتشار :
1403
موضوع ها :
ریزکنترل کننده Microcontroller مدار مجتمع کاربرد خاص Application Specific Integrated...
شماره راهنما :
05-58270
Find in content
sort by
page number
page score
Bookmark
1- فصل اول: مروری بر ارزیابی
(13)
1-1 تاریخچه مدارهایمجتمع
(13)
1-2 انواع مدارات مجتمع
(13)
1-3 ارزیابی[1]
(14)
1-3-1 ارزیابی عملکرد14F
(14)
1-3-1-1 تست مستقیم25F
(16)
1-3-1-2 تست تصادفی26F
(18)
1-3-1-3 ارزیابی رسمی28F
(19)
1-3-1-4 مدل سایه34F
(21)
1-3-2 ارزیابی توان [3]
(21)
1-3-3 ارزیابی کارایی41F
(22)
2- فصل دوم: ارزیابی در Front End
(23)
2-1 مقدمه
(23)
2-2 حافظه Flash
(23)
2-3 علت ایجاد حافظه Cache
(25)
2-3-1 ماژول qspi_flash_ahb_interface
(27)
2-3-2 ماژول qspi_flash_sw_ahb_interface
(28)
2-3-3 ماژول cached_xip
(28)
2-3-4 ماژول qspi_flash_driver
(28)
2-3-5 معماری حافظه Cache
(29)
2-4 مدل سایه55F
(34)
3- فصل سوم: بررسی مدلهای سایه مربوط به Cache
(39)
3-1 مدل سایه cached_xip
(39)
3-1-1 پیاده سازی رابط کد Systemverilog و توابع C در cached_xip
(39)
3-1-2 پیاده سازی بررسی سیگنالهای ماژول cached_xip
(43)
3-1-3 شرح تابع is_missed
(44)
3-1-4 شرح تابع update_control_signals
(45)
3-1-5 شرح تابع posedge_clock_checker
(46)
4- فصل چهارم: بخش Back End و جانمایی
(52)
4-1 معرفی Back End در طراحی ASIC
(52)
4-1-1 معرفی ابزار Innovus
(52)
4-1-2 مسیر Back End در طراحی دیجیتال
(54)
4-1-3 توضیح فایلهای مورد نیاز در بخش Back End
(56)
4-2 جانمایی میکروکنترلر Cortex M0
(57)
4-2-1 انتخاب سلولهای استاندارد
(57)
4-2-1-1 سلول استاندارد ورودی-خروجی دیجیتال
(57)
4-2-1-2 سلول استاندارد کریستال
(58)
4-2-1-3 سلول استاندارد تغذیه و زمین میکروکنترلر
(59)
4-2-2 ایجاد فایل MMMC
(61)
4-2-3 وارد کردن طراحی به محیط Innovus
(62)
4-2-4 طراحی نقشه تراشه109F
(62)
4-2-5 اضافه نمودن Power Ring و Power Stripe
(63)
4-2-6 اضافه نمودن Rail های سلولهای استاندارد Core
(64)
4-2-7 قراردهی سلولهای استاندارد
(64)
4-2-8 بهینه سازی پیش از تولید درخت کلاک
(66)
4-2-9 تولید درخت کلاک
(67)
4-2-10 سیم کشی نهایی
(69)
4-2-11 اصلاح چگالی سطحی فلزها
(69)
4-2-12 بررسی گزارشهای نهایی
(69)
4-2-12-1 بررسی گزارش زمانبندی
(69)
4-2-12-2 بررسی گزارش توان مصرفی
(70)
4-2-12-3 بررسی گزارش مساحت مصرفی
(71)
4-2-12-4 بررسی گزارش DRC
(71)
4-2-12-5 بررسی گزارش LVS
(72)
4-3 تحلیل توان میکروکنترلر
(72)
4-3-1 تحلیل استاتیک
(72)
4-3-2 تحلیل دینامیک (پویا)
(76)
5- فصل پنجم: اندازه گیری و مقایسه با شبیهسازی
(79)
5-1 بلوک دیاگرام ساختار تست
(79)
5-2 نتایج اندازه گیری
(80)
5-2-1 اندازه گیری توان نشتی
(80)
5-2-2 اندازه گیری توان تست NOP117F
(82)
5-2-3 اندازه گیری Clock Out
(84)
5-2-4 اندازه گیری توان مصرفی عملیات ضرب
(86)
5-3 مقایسه نتایج اندازه گیری و شبیهسازی
(88)
5-3-1 آزمون پذیرش ویفر
(89)
5-3-2 بررسی نتایج شبیه سازی تست NOP و مقایسه با مقادیر اندازهگیری شده
(92)
5-4 چالشهای اندازهگیری
(95)
5-4-1 عدم توانایی استفاده از کریستال فرکانس بالا
(95)
5-4-2 عدم توانایی اندازهگیری جریان لحظهای
(100)
6- پیوست الف: کدهای مدل سایه qspi_flash_driver_xip
(104)
